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        開爾文探針掃描系統

        簡要描述:開爾文探針掃描系統是一種非接觸無損震蕩電容裝置,用于測量導體材料的功函數(Work Function)或半導體、絕緣表面的表面勢(Surface Potential)。材料表面的功函數通常由Z上層的1-3層原子或分子決定,所以開爾文探針是一種Z靈敏的表面分析技術。

        • 產品型號:
        • 廠商性質:代理商
        • 更新時間:2021-12-23
        • 訪  問  量:12717

        產品分類

        Product Category

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        詳細介紹

        產地類別進口

        我們的開爾文探針系統包括:

        □   單點開爾文探針(大氣環境及氣氛控制環境);

        □   掃描開爾文探針(大氣環境及氣氛控制環境);

        □   超真空(UHV)開爾文探針;

        □   濕度控制的腐蝕開爾文探針;

         

        掃描開爾文探針系統配置

        這是一款可以被大多數客戶所接收的掃描開爾文探針系統,它是在ASKP基礎之上包括了彩色相機/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數字示波鏡等配置,其規格如下:

        □    2毫米,50微米探針;

        □    功函數分辨率 1-3 meV(2毫米針尖),5-10 meV(50微米針尖);

        □    針尖到樣品表面高度可以達到400納米以內;

        □    表面勢和樣品形貌3維地圖;

        □    探針掃描或樣品掃描選配;

        □    彩色相機、調焦鏡頭、TFT顯示器和專業的光學固定裝置;

        □    參考樣品(帶相應的掃描開爾文探針系統的形貌);

        □    備用的針尖放大器;

        □    24個月超長質保期;

         

        儀器的特色

        □    商用的*意義上的開爾文探針系統;

        □    高分辨率的功函數和表面勢,的穩定性和數據重現性;

        □    非零技術(Off-null,ON) ——ON信號探測系統在高信號水平下工作,與基于零信號原理(null-based,LIA)的系統相比,不會收到噪聲的影響擁有高靈敏度;

        □    高度調節技術 ——我們的儀器在測量和掃描時可以控制針尖的高度。因為功函數受樣品形貌的影響,針尖與樣品表面距離的調節意味著數據的高重現性且不會漂移;

        □    該領域內,擁有的信噪比;

        □    快速響應時間 ——測量速度在0.1-10秒間,遠快于其他公司產品;

        □    功能強的驅動器 ——選用Voice-coil(VC)驅動器,與通常的壓電驅動器相比,VC驅動器頻率要穩定得多、控制的針尖振幅大得多、支持平行多探針操作、支持不同直徑探針操作;

        □    所有開爾文探針參數的全數字控制;

        ON    

        非零探測  Off Null detection 
          HR         高度調節模式  Height Regulation mode
          SM  實際開爾文探針信號監控  Monitoring of the actual Kelvin probe signal
          UC  用戶通道,同時測量外部參數  User Channels, simultaneous measurement of external parameters
          DC  電流探測系統去除漂移效應  Current Detection system rejects stray capacity effects
          PP  平行板震動模式  Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode
          SA  信號平均  Signal Averaging (often termed Box-Car Detection)
          WA  功函數平均  Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting
          DC  所有探針及探測參數的數字控制  Digital Control of all Probe and Detection Parameters
          QT  針尖快速改變  Quick-change Tip, variable spatial resolution
          DE    數據輸出  Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software
          OC  輸出通道  Output Channel: TTL switching of external circuit
          FC  法拉第籠(電磁干擾防護罩)  Faraday Cage (EMI Shield)
          RS  金-鋁參考樣品  Gold-Aluminium Reference Sample
         額外選配項
          SPV  表面光伏電壓軟硬件包  Surface Photovoltage Software and Hardware Package
          RH  相對濕度腔  Relative Humidity Chamber
          AC  控制氣體進口的環境單元  Ambient Cell for controlled Gas Inlet
          EDS  外部數據示波鏡  External Digital Oscilloscope
          OPT  彩色相機  Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts
          ST  針尖置換  Replacement Tips
          GCT  鍍金的針尖替換  Gold Coated Replacement Tips
          XYZ  25.4毫米手動3維控制臺  3-axis 25.4 mm Manual Stage

         

        應用領域

        吸附,電池系統,生物學和生物技術,催化作用,電荷分析,涂層,腐蝕,沉積,偶極層形成,顯示技術,教育,光/熱散發,費米級掃描,燃料電池,離子化,MEMs,金屬,微電子,納米技術,Oleds,相轉變,感光染色,光伏譜學,高分子半導體,焦熱電,半導體,傳感器,皮膚,太陽能電池,表面污染,表面化學,表面光伏,表面勢,表面物理,薄膜,真空研究,功函數工程學;

         

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