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        飛行時間二次離子質譜1

        簡要描述:飛行時間二次離子質譜1是一種非常靈敏的表面分析技術??梢詮V泛應用于物理,化學,微電子,生物,制藥,空間分析等工業和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三維樣品的元素,分子等結構信息。

        • 產品型號:
        • 廠商性質:代理商
        • 更新時間:2018-12-11
        • 訪  問  量:4476

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        技術參數:
        . 并行探測所有離子,包括有機和無機分子碎片。
        . 無限的質量探測范圍(實際測量中大于1000m/z 原子量單位)。
        . *透過率下實現高的質量分辨率。
        . *的橫向和縱向空間分辨率(橫向小于100納米,縱向小于1納米)。
        . 探測靈敏度可達ppm或ppb量級。
        . 質量探測分辨率(M/ΔM) >1000
        . 質量探測準確度 ≥20 milli 質量單位
        . 反射性分析器
        . 5 分鐘樣品腔真空度可從大氣環境達到真空工作環境

        主要特點:
        .  超高的表面靈敏度(1x109 atoms/cm2)
        ·  操作簡單(? day training)
        · 1 分鐘分析,樣品處理流程 <7分鐘
        · 導體和絕緣體表面均可測試
        · 可得到元素和分子信息
        · 從元素中分離出普通有機物
        · 正電和負電的 二次離子質譜
        · 同位素分析
        · 分析面積 ~0.5 mm
        ·  濺射預清洗表面
        · 提供材料數據庫

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